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光学

TSV測定の光学系

目的
高アスペクト比構造(シリコン貫通電極,トレンチ等)TSVの光学検査用に低NAの反射型対物レンズを設計

TSVの断面図

要求:
NA<0.01

可視光源による実験

可視通常光源

LDLS光源による実験

LDLS光源

DUV光源による実験

DUV wavelength range (180-700nm)

反射対物レンズ

Objective design Approach
Delete vignetted rays

課題:

小さなNAと小さなスポットサイズを達成するために、ほとんどの光パワーが無駄になります。DUV波長域では、LDLS(スーパーコンティニューム)光源は使用できません。また、スループット対策としては、光源としてレーザー光源の使用やセンサとして高電子増倍管の使用が考えられます。